Slik kalibrerer AFM Tips

En atomic force mikroskop ( AFM ) er en enhet som brukes til å måle svært små funksjoner på nanoskala. Dens grunnleggende komponentene består av en liten cantilever , hvorpå er en atomically skarpe spissen . I sin kontakt virkemåte, er spissen skannet over en flate , og den beveger seg opp og ned med funksjonene på prøvene overflaten. Dette tillater et kart over prøvens overflate som skal bygges . For å riktig beregne høyden av utvalgs funksjoner, har AFM normalt å være calibrated.Things du trenger
Atomic force mikroskop
atommikroskop tips arkiv Atomic Force Microscope kalibrering sample arkiv Pinsett

Vis flere instruksjoner
1

Monter AFM tips på spissen holderen . Spissen holderen består normalt av et fjærende klips som er montert på en plast -plattform . Ved hjelp av pinsett , løfte en ny spiss fra boksen sin og forsiktig plassere den på plastplattformen . Trykk ned på fjærbelastet klips , slik at klippet løftes litt . Ved hjelp av pinsett , skyv spissen under fjærbelastet klips og slipp den. Tuppen bør holdes godt på plass .
2

Sett tuppen på mikroskopet hodet . Normalt spissen innehaveren vil ha en rekke små plugger som tilsvarer pinnene på mikroskopet hodet . Plugge spissen holderen forsiktig inn pinnene på mikroskop hodet .
3

Mount kalibrerings prøven på skanning scenen. Kalibreringsprøvertypisk bestå av et rutenett av linjer med kjent tykkelse , vanligvis rundt 20nm .
4

Bildekalibreringsprøven. Bruke skannekontroller , bringe spissen i kontakt med kalibrering prøven og måle en passende størrelse bildet slik at rutenettet kan sees.
5

Kalibrer AFM og tips . Når bildet er ferdig , sjekk den målte verdien av grid høyde og sammenligne dette med tykkelsen oppgitt av kalibreringsprøvenprodusenten

Beregn forholdet mellom faktiske tykkelse målt tykkelse: .

Kalibrering ratio = Faktisk tykkelse /Målt tykkelse

for fremtidige tykkelsesmålinger ved hjelp av denne AFM spissen , bruker omorganisert formel til å finne riktig tykkelse : .

Faktisk tykkelse = Kalibrering ratio x Målt tykkelse