AFM tappe-modus Fordeler

Et mikroskop er en enhet som gjør det mulig å se veldig små objekter. I dag er det mange forskjellige typer av mikroskop og disse inkluderer den optiske , elektron og atomic force mikroskop ( AFM ) . Den AFM består av et cantilever hvorpå det er en atomically skarp spiss . Når spissen er skannet over en prøveflate, kraften mellom spissen og prøven fører til cantilever beveger seg opp og ned med overflaten. AFM Tapping Mode
p Det er to hovedmåterAFM . Den første metoden er kjent som kontaktmodus og i denne konfigurasjonen spissen er fysisk dras over prøvens overflate . Ettersom spissen beveger seg opp og ned i respons til funksjonene på overflaten , blir høyden detektert via en laserstråle reflekteres av det frittbærende overflate. I tappe-modus , blir spissen ikke kommer i kontakt med overflaten , men i stedet svinger opp og ned med en konstant høyde over vannflaten. Ettersom spissen lateralt skanner over prøvens overflate , kraften mellom spissen og prøven fører til en forandring i svingningsamplitude som blir detektert av en laserstråle reflekteres av det frittbærende overflate.
Tip Preservation

Kontakt modus innebærer dra av tuppen over prøven overflaten . Selv om kontakt modus tips er vanskelig , kan de uunngåelig bli skadet hvis prøven funksjoner er brå , og tips må skiftes ganske ofte . Tappe-modus tips bør i prinsippet aldri ta kontakt med overflaten , og dette betyr at spissen har en lengre levetid enn de kontakt modus ekvivalenter . Siden AFM tips er dyre , tappe-modus er den mest kostnadseffektive måten å gjennomføre studiene .
Sample Bevaring

Kontakt modus er svært invasiv siden tips gjør fysisk kontakt med prøven . Dette kan føre til skade på prøvens overflate , og ofte en del av spissen materialet vil bli avsatt på prøveoverflaten . Tappe-modus gjør ikke kontakt med prøven , og prøven overflaten skal være ren .
Magnetic Force Mikros

Noen ganger er det nødvendig å kartlegge de magnetiske egenskapene til en prøve . Når en magnetisk spiss kommer i kontakt med prøven , kan det være vanskelig å løse de krefter på det resulterende fra magnetisme spissen, og de ​​som bare fra topologien av prøven. Siden magnetisme er et langtrekkende kraft , mens topologiske krefter er kort rekkevidde , tappe-modus , som finner sted på en konstant høyde over prøven overflaten , gjør at høyde og magnetisk informasjon som skal separeres .